闩锁（latchup）效应是描述半导体器件内发生的特殊类型短路的一个术语。形成的寄生结构包含P道MOSFET和N沟MOSFET晶体管，从而导致寄生的PNPN结构产生。在MOSFET电路的电源供给线之间会意外形成一个低阻通路，导致进入低电压大电流状态。这会导致功能中断，并会产生热奔、过电应力和封装损坏。
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