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什么是电磁兼容(EMC)
电磁兼容(Electromagnetic Compatibility,EMC)是指一个电子系统在预期电磁环境下能运行正常,同时又不会成为该电磁环境的辐射源。从电磁兼容的角度看,一个电子系统充当两个角色:一是电磁场...
EOS失效机理有哪些呢?
对于EOS的失效可能是技术兼容性、负载、电路板或系统集成产生的。那么其它的失效机理有哪些呢? 1、半导体工艺和应用不匹配 2、键合引线失效 3、外部负载导致的芯片失效 4、印刷电路板(PCB)至...
仪器测量单位Ohms/SQ和S20.20标准里的Ohms有什么区别?
某款仪器测量单位是Ohms/SQ的话,它使用背后平行金属条测的是电阻率,用两个重锤测量的是表面电阻,这在仪器的面板上一般是有注明的。在测量过程中针对单层材料,电阻与电阻率相差大约10倍。
什么是闩锁效应?
闩锁(latchup)效应是描述半导体器件内发生的特殊类型短路的一个术语。形成的寄生结构包含P道MOSFET和N沟MOSFET晶体管,从而导致寄生的PNPN结构产生。在MOSFET电路的电源供给线之间会意外形成...
ESD/EOS潜在的故障发生几率有多大?
我收到一些由现场返回的组件(已安装在电路板上的芯片,在通电测试时不能通过),在实验室分析后被确定为ESD/EOS。这种潜在的故障发生的几率有多大?发生前有何征兆? EOS和ESD 在物理过程...