电磁干扰（Electromagnetic Interference，EMI）是电磁场产生的干扰或噪声。EMI会导致电子系统的器件级或系统级故障。EMI不与电子系统物理接触就可以导致电子器件故障。

在测量时，有的人就会问为什么我们要设置上限为35兆欧，而不是40兆欧或30兆欧，那么我们就来讲下： 一般的对应关系（人体对地电阻的上限）如下： 100V—35兆欧 50V—20兆欧 10V—1兆欧

答：测试ESD地线至设备地线的阻抗，标准要求是低于25欧姆。

防静电手腕内表面及内带金属块与皮肤良好有效的接触。 注意：不得佩戴在衣袖及手套上等。

通用开关电源：比如220AC输出9V DC，DC输出地线对220AC大地线有70AC； 问题1、是否属于ESD电压问题？ 问题2、怎样消除70AC。 是否可以把DC输出地线接入220AC大地端，在供电产品过程中有什么风险...

要是操作员、ESD 接地板等处于同一电位，就不可能发生ESD。我想问的是，要是接地板“硬接地”，而且操作员佩戴防静电腕，并通过1M 电阻接地，那么还是有可能发生危险，对吗？ 不一定，当电流通...

闩锁（latchup）效应是描述半导体器件内发生的特殊类型短路的一个术语。形成的寄生结构包含P道MOSFET和N沟MOSFET晶体管，从而导致寄生的PNPN结构产生。在MOSFET电路的电源供给线之间会意外形成...

不建议采用此方式接地，间接接地不是最可靠的接地方式。

通过模拟现场、合作实验室超声波、X-Ray等无损探测以及各类DPA技术对失效电子器件进行原因分析，确认失效器件是否为ESD造成。

静电泄漏（electrostatic leakage）是指带电体上的电荷通过带电体内部和其表面等途径而使之部分或全部消失的现象。

我收到一些由现场返回的组件（已安装在电路板上的芯片，在通电测试时不能通过），在实验室分析后被确定为ESD/EOS。这种潜在的故障发生的几率有多大？发生前有何征兆？ EOS和ESD 在物理过程...

对于EOS的失效可能是技术兼容性、负载、电路板或系统集成产生的。那么其它的失效机理有哪些呢？ 1、半导体工艺和应用不匹配 2、键合引线失效 3、外部负载导致的芯片失效 4、印刷电路板（PCB）至...