1. 首页
  2. 技术资源
  3. 静电技术

静电术语表

对于静电防护大家也是再知道不过了,但是静电相关的一些术主语大家知晓多少呢?那今天小编在这里就给大家分享一些静电相关的术语:

空气离子消电器:一种在空气中产生离子的电子或核装置,用于在制造和组装环境中消除静电。

抗静电材料:能防止静电在工作台面或材料内产生的材料涂层。抗静电材料是化合物,通常用于处理材料或者其表面,使其减少或者消除摩擦产生的电荷聚集。

审核:检查生产过程,确认与ESD流程和标准要求符合。

电缆放电事件(CDE):来自于电缆的静电放电事件。

盒式模型:一种采用10pF电容网络的ESD测试方法,也称为小充电模型(SCM),或者任天堂模型。

充电板事件(CBE):评价安装在板上的封装半导体芯片充电后再接地的ESD测试方法,测试过程半导体芯片安装在板上,板置于绝缘体上。

放电器件模型(CDM):评价封装半导体芯片充电后再通过一个引脚接地的ESD测试方法。测试过程中半导体芯片放在一块绝缘体上,而不是插座里。

导体:电子在内部可以自由流动的材料,例如铜和铝。材料的电导率比绝缘体和半导体高。

电磁干扰(EMI):由于电磁感应或者外部的电磁发射而影响电子电路的电磁扰动。

电磁脉冲(EMP):由于高能或者核爆炸产生的电磁爆发事件,导致电场和磁场快速变化,并耦合到电气/电子系统,产生破坏性电流和电压浪涌。

过电应力(EOS):过电压或者过电流的电学事件,导致电子元件或者电子系统损坏和失效。

电磁兼容(EMC):一门研究非预期的电磁能量产生传输和接收的电子学分支,电磁兼容同时关注系统对电磁干扰的敏感性以及电磁噪声的传播。

静电放电(ESD):静电放电是过电应力的一类,可导致器件立即失效、永久性的参数漂移或导致持续退化的潜在损伤。

静电屏蔽:电子系统中用于防止电磁噪声进入和穿透的屏蔽。

静电敏感性:系统对电磁干扰的敏感度。

等电位:所有点的电位相同的面。

等电位连接:连接两个物体使其静电位相同而避免发生静电放电的操作。

ESD控制程序:在生产和操作中防止静电问题的公司规程。

场致充电:物料置于电场中而导致的充电过程,也称为场感应充电。

人体模型(HBM):放电源采用100pF电容和1500Ω电阻组成的串联RC网络的ESD测试方法。

人体金属模型(HMM):采用IEC61000-4-2规定的脉冲对半导体芯片进行ESD试验的方法,只有连接到系统的引脚才进行测试。源是符合IEC61000-4-2标准要求的ESD枪。

感应充电:通过电磁场在两个物体间转移能量而充电的过程。

绝缘体:电导率比半导体和导体低的材料(小于10E-8S/cm)。绝缘体能阻止电流流动。

集成电路:半导体工艺制成的电子电路,不同的元器件集成到同一个衬底或者圆片上。

电离:将原子变成离子的方法,采用的技术包括电学技术和核源技术。

闩锁:半导体器件或者功率系统中的PNPN寄生结构(又称为硅控整流管、晶闸管或者Schockley二极管)进入高电流低电压状态时所导致的过程电失效,闩锁可能导致热失效和系统损坏。

潜在失效机理:损伤导致的与未测试样品或良品发生偏离的失效机理。潜在失效可能会影响成品率和可靠性。

机器模型(MM):放电源采用200pF电容的ESD测试方法。

半导体:电导率在导体和绝缘体之间的材料(电导率10E-3~10E-8S/cm之间),半导体常用于集成电路制造技术。

小充电模型(SCM):放电源采用10pF电容的ESD测试方法。

插座器件模型(SDM):评价封装半导体芯片充电后再通过一个引脚接地的ESD测试方法。测试过程中半导体芯片放置在插座中。

静电:充电过程中产生并在物体上保持和积累的电荷。

表面电阻率:材料表面单位面积的电阻(与体电阻率相对)。

IEC61000-4-2系统级试验:使用ESD枪对系统注入脉冲的系统级试验方法。

传输线脉冲(TLP):使用矩形脉冲对器件进行试验的ESD测试方法(10ns上升和下降时间,100ns保持时间)。

摩擦生电:通过接触带电方式产生电荷的方法。接触带电是指材料接触了另外一种材料,分离后(例如摩擦)带电;带电的极性和强度与材料、表面粗糙度、温度、应变和其它特性相关。

摩擦生电序列:材料摩擦生电特性的一个排序表。材料在接触分开后的充电极性决定了它在列表中的位置。接近列表底部的材料,接触了接近列表顶部的材料,会得到负电荷,反之亦然。Tribo是希腊语“摩擦”的意思。

超快传输线脉冲(VF-TLP):使用矩形脉冲对器件进行试验的ESD试验方法(1ns上升和下降时间,10ns保持时间)。

 

上述术语表来源于ESD揭秘书籍

本文由ESD圈收集整理分享,如转载请注明出处:https://www.esd0.com/technology/static/3407.html;

如有侵权,请邮件联系 admin@esd0.com 删除。

=======================================

本站发布的文章以及附件仅限用于学习和研究使用;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,后果请用户自负。

本站信息来自网络,版权争议与本站无关。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。

如果您对本站的标准感兴趣,请前往对应的标准官方网站购买并得到授权。如有侵权请邮件与我们联系处理。

发表评论

电子邮件地址不会被公开。 必填项已用*标注