EOS（过电应力）对电子系统来说与半导体器件相关。EOS事件是可观察到的电气条件分类之一。
EOS事件可包括：
静电放电（ESD）
系统瞬态
雷击
充电
电磁脉冲（Electromagnetic Pulse，EMP）
然而ESD是属于过电应力（EOS）现象的一种。
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