电气过载(EOS)/ 静电释放(ESD)损害的预防 – 电气过载(EOS)

电子元器件会受到许多不同来源的意外电能损害。这些意外电能可能来自ESD 电压或来自我们所使用的工具如电烙铁、吸锡器、测试仪器或操作其它电子设备所产生的尖峰电脉冲。有些设备较其它设备更为敏感。敏感度的高低因设计而异。一般来说设备越小、越精密、运算速度越快,敏感度就越高。设备的目的或用途对于元器件的敏感性有着举足轻重的影响。这是因为元器件的设计可允许其对更小的电压或在更宽的频带内做出反馈。以目前的产品而言,EOS 的问题比几年前要严重的多,在将来还会更加严重。

当考虑产品的敏感度时,我们必须考虑产品组件中最敏感的元件。在电路工作过程中,有害的电能会和正常的信号一样能被传导及处理。

在操作敏感元件前,需要仔细测试工具和设备,保证它们不产生破坏性能量,包括尖峰脉冲。目前研究表明,小于0.5 伏的电压和脉冲是可接受的。但是,愈来愈多的高敏感度元器件要求烙铁、吸锡器、测试仪器和其他设备不能产生大于0.3 伏的脉冲。

如大多数ESD 规范所要求,对设备进行定期的测试可防止长期使用造成性能下降而引起的损害。为保持操作设备不引起EOS 损害的能力,保养工作同样是不可或缺的。
EOS 损害和ESD 损害是十分相似,极难分辨的,因为它们都是意外电能造成的破坏性后果。

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