电气过载(EOS)/ 静电释放(ESD)损害的预防

      静电释放(ESD)是当静电源产生静电时,静电荷从一个物件迅速地传到另一个物件的现象。当静电荷与静电敏感元件接触或接近时会对元件造成损伤。
      电气过载(EOS)是某些额外出现的电能导致元件内部损害的结果。这种损害的来源很多,如:电力生产设备或操作与处理过程中产生的ESD。
      静电敏感(ESDS)元器件就是容易受此类高能放电影响的元器件。元器件对ESD 的敏感程度取决于其材料及构造。元器件越小,运算速度越快,就越为敏感。
      ESDS 元器件会因不正确的操作或处理而失效或元器件值发生改变。这种失效可分为即时和延时两种。即时失效可以重新测试、修理或报废;而延时失效的结果却严重得多:即使产品已经通过了所有的检验与测试,仍有可能在送到客户手中后失效。
      对ESDS 元器件进行保护性电路设计和包装是很重要的。在生产区域,一些接触ESDS 元器件的操作常常使用未经保护的电子组件(如测试夹具)。
      ESDS 元器件只有在静电防护区(EPA)内的EOS /ESD 安全工作台上才可以从防静电包装中取出。本章注重于对这些未经保护的电子组件的安全操作。
本章所述内容可被广泛运用。进一步的信息可查询IPC/EIA J-STD-001、ANSI/ ESD-S-20.20 与其它相关文件。

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