EOS基础知识详解

EOS为Electrical Over Stress的缩写,指所有的过度电性应力。当外界电流或电压超过器件的最大规范条件时,器件性能会减弱甚至损坏。
EOS产生原因包括:
1.电源(ACDC) 干扰、电源噪声和过电压。
2.由于测试程序切换(热切换)导致的瞬变电流峰值低频干扰。其过程持续时间可能是几微秒到几秒(也可能是几纳秒),很短的EOS 脉冲导致的损坏与ESD损坏相似。
3.闪电。
4.测试程序开关引起的瞬态毛刺短时脉冲波形干扰。
5.测试设计欠佳,例如,在器件尚未加电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。再比如在对器件供电之前加入测试信号,或超过最大操作条件。
6.来自其它设备的脉冲信号干扰,即从其它装置发送的脉冲。
7.不恰当的工作步骤,工作流程不甚合理

8.接地点反跳(由于接地点不够导致电流快速转换引起高电压)

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