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带电器件测试与防护-带电器件测试

随着芯片制造和测试自动化程度的提高，人体接触器件的机会相对减少，带电器件模型（CDM）已经成为微电子器件失效的主要原因之一，其重要性越来越多地受到人们的重视。带电器件测试 A、测…

防静电（静电防护）
静电技术 2017年10月15日
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